Mezurilo por litiaj baterioj kun elektrodoj
-
Super-rentgena area denseca mezurilo
Mezuro adaptebla al pli ol 1600 mm larĝo de tegaĵo. Subtenas ultra-rapidan skanadon.
Malgrandaj trajtoj kiel maldikiĝaj areoj, gratvundoj, ceramikaj randoj povas esti detektitaj.
-
CDM integrita dikeco & aredenseca mezurilo
Tega procezo: reta detekto de malgrandaj trajtoj de la elektrodo; oftaj malgrandaj trajtoj de la elektrodo: ferimalsato (neniu elfluo de la kurentkolektilo, malgranda griza diferenco kompare kun la normala tega areo, malsukceso de CCD-identigo), gratvundo, dikecokonturo de maldikiĝa areo, detekto de AT9-dikeco ktp.
-
Lasera dikecomezurilo
Mezurado de elektroda dikeco en la tega aŭ ruliĝa procezo de litia baterio.
-
Rentgena/β-radia area densecmezurilo
Faru retajn nedestruktajn testojn pri la surfaca denseco de la mezurata objekto en la tegaĵa procezo de litio-bateria elektrodo kaj la ceramika tegaĵa procezo de apartigilo.
-
Senreta dikeco kaj dimensiomezurilo
Ĉi tiu ekipaĵo estas uzata por mezuri la dikecon kaj dimension de elektrodoj en la tegaĵo, rulado aŭ aliaj procezoj de litio-baterio, kaj povas plibonigi la efikecon kaj konstantecon por mezurado de la unua kaj lasta artikolo en la tegaĵo-procezo kaj oferti fidindan kaj oportunan metodon por kontroli la kvaliton de elektrodoj.
-
3D-profilometro
Ĉi tiu ekipaĵo estas ĉefe uzata por veldado de litiaj baterioj, aŭtopartoj, 3C elektronikaj partoj kaj 3C ĝenerala testado ktp, kaj estas speco de altpreciza mezurilo kaj povas faciligi mezuradon.
-
Filma plateca mezurilo
Testu la streĉan egalecon por folio- kaj apartigilaj materialoj, kaj helpu klientojn kompreni ĉu la streĉo de diversaj filmmaterialoj estas kohera per mezurado de la onda rando kaj ruliĝgrado de filmmaterialoj.
-
Optika interfera dikecomezurilo
Mezuru optikan filmtegaĵon, sunan oblaton, ultra-maldikan vitron, glubendon, Milaran filmon, OCA-optikan gluon, kaj fotoreziston ktp.
-
Infraruĝa dikecomezurilo
Mezuru humidenhavon, tegaĵkvanton, filmon kaj dikecon de varmfandita gluaĵo.
Kiam uzata en la gluado, ĉi tiu ekipaĵo povas esti metita malantaŭ la gluujo kaj antaŭ la forno, por reta mezurado de la gludikeco. Kiam uzata en la paperfarada procezo, ĉi tiu ekipaĵo povas esti metita malantaŭ la forno por reta mezurado de la humidenhavo de seka papero.
-
Rentgena dikeco-mezurilo (gramo-pezo)
Ĝi estas uzata por detektado de dikeco aŭ grampezo de filmo, folio, artefarita ledo, kaŭĉuka folio, aluminio- kaj kupraj folioj, ŝtala bendo, ne-teksitaj ŝtofoj, tremp-tegitaj kaj tiaj produktoj.
-
Ĉela sigela rando dikeco mezurilo
Dikecmezurilo por ĉelsigela rando
Ĝi estas metita en la supran sigelan metiejon por saketa ĉelo kaj uzata por senreta prova inspektado de la dikeco de la sigela rando kaj nerekta juĝo de la sigela kvalito.
-
Plurkadre sinkronigita spurado kaj mezuradosistemo
Ĝi estas uzata por katodo- kaj anodo-tegaĵo de litio-baterio. Uzu multoblon da skanadaj kadroj por sinkronigita spurado kaj mezurado de elektrodoj.
La plurkadra mezursistemo celas konsistigi la unuopajn skanajn kadrojn kun samaj aŭ malsamaj funkcioj en mezursistemon per uzado de la aparta spura teknologio, por realigi ĉiujn funkciojn de unuopaj skanaj kadroj same kiel sinkronigitajn spurajn kaj mezurajn funkciojn, kiujn ne eblas atingi per unuopaj skanaj kadroj. Laŭ la teknologiaj postuloj por tegado, skanaj kadroj povas esti elektitaj kaj maksimume 5 skanaj kadroj estas subtenataj.
Oftaj modeloj: duoble-kadraj, tri-kadraj kaj kvin-kadraj β-/rentgen-sinkronaj surfacdensecaj mezuriloj: Rentgen-/β-radiaj duoble-kadraj, tri-kadraj kaj kvin-kadraj sinkronigitaj CDM-integra dikeco- kaj surfacdensecaj mezuriloj.
